32层复杂叠层可造,脉冲电镀匀铜厚,阻抗板制程力覆盖全场景

信号稳、损耗低、抗干扰,赋能各类高速电子设备
高精度LDI曝光配合时域反射(TDR)检测,实现阻抗公差可达±5%(可选±3%,满足最严苛设计需求)
支持PTFE基Rogers、Taconic等低介质损耗材料,Dk可选1.7–10,适配微波至毫米波频段应用
支持微带线(stripline)、共面波导(CPW)与倒装线(custom embedded stripline)等多种阻抗形式,满足不同堆叠与工艺需求
实时在线厚度监测与双面同步压合,介质层厚度公差可达±0.005 mm,保证批次间电性能高度一致
采用精细蚀刻与专业铜箔材质,使插损低至0.2 dB/inch (10 GHz),回波损耗>20 dB,提升信号传输效率
配备自动阻抗测试仪、飞针阻抗测试台与AOI,覆盖每板每路阻抗检测,数据可追溯,确保出厂阻抗符合设计指标

1、频率和温度:在高频下,控制阻抗较低,且由于温度升高,控制阻抗会发生热膨胀(±150 ppm)。
2、公差:控制阻抗是根据制造公差设定的。通常控制阻抗的公差为±10%。但有时制造商会设定更小的公差。这就是它影响阻抗的原因。
3、参考地:阻抗控制PCB中的参考地层需要控制阻抗走线来满足要求。有时设计人员会创建部分地,这也会因接地层而影响控制阻抗。
4、布线:有时,由于布线问题,设计人员会减小内外铜层之间的间距。
5、介电材料和厚度:制造商会根据电路板厚度和控制阻抗来设置叠层结构,但他们会选择更高介电常数和更厚的介电材料。因此,最终性能完全受控制阻抗的影响。